該平臺集植物表型圖像采集與參數(shù)分析于一體,可對盆栽作物進行高通量、高精度、無損化的數(shù)據(jù)采集和多維度表型數(shù)據(jù)分析。適用于溫室控制環(huán)境下的植株長勢監(jiān)測、逆境響應研究、病害等級分析等多種實驗場景。
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